高性能XRF鍍層測試儀，適用于超小部件上的超薄鍍層分析

• 使用多毛細管光學(xué)聚焦系統(tǒng)，光斑尺寸<50um
• 數(shù)秒間測試納米級鍍層厚度
• 高分辨率硅偏移探測器
• 簡單易用的操作軟件
• 強大的數(shù)據(jù)處理能力